Рассматриваются методы контроля и схемотехнические решения измерительных устройств в автоматизированных системах контроля различных объектов, для которых характерны измерения в области сверхмалых токов и напряжений. Предлагаются графоаналитические методы поиска оптимальных значений параметров измерительных узлов на основе уравнений чувствительности с возможностью обработки результатов измерений на микроконтроллере, позволяющие повысить точность и параметрическую устойчивость измерителей. Приводится сравнение полученных результатов с экспериментальными данными.

оптимизация параметров, измерительный узел, микроконтроллер

1. Методы теории чувствительности в автоматическом управлении / В.И. Городецкий, Ф.М. Захарин, Е.Н. Розенвассер, Р.М. Юсупов. – Л.: Энергия, 1971.
2. Дмитриков, В.Ф. Повышение эффективности преобразовательных и радиотехнических устройств: учеб.-метод. пособие / В.Ф. Дмитриков, В.В. Сергеев, И.Н. Самылин. – СПб.: СПбГУТ им. проф. М.А. Бонч-Бруевича, 2005.
3. Попов, Е.П. Теория линейных систем автоматического регулирования и управления / Е.П. Попов: – М.: Наука, 1989.
4. Евстифеев, А.В. Микроконтроллеры AVR семейства Tiny и Mega фирмы «ATMEL» / А.В. Евстифеев. – М.: Додэка XXI, 2007.
5. Технические условия АЕЯР.431280.537ТУ на микроконтроллер 1887ВЕ1У.

Вестник ЮУрГУ. Серия «Компьютерные технологии, управление, радиоэлектроника». – 2012. – Вып. 15. - № 3 (262). С. 27-33. (Статьи)